| La fluorescence X
L'analyse qualitative ne nécessite aucune préparation de léchantillon. Lanalyse globale peut être directement effectuée sur lobjet ou léchantillon. Cependant, lanalyse des éléments de numéro atomique inférieur à celui du calcium doit être effectuée sous balayage de lhélium ou sous vide, car lair absorbe les rayonnements de longueur donde supérieure à 3 Å. La surface analysée varie de 20 cm2 à 0,2 cm2 selon la quantité déchantillon disponible.
La spectrométrie de fluorescence X peut être appliquée à lanalyse de tout matériau conducteur ou non. Elle sert au Laboratoire de recherche des musées de France (LRMF) à lanalyse des matériaux minéraux (verres, céramiques, mosaïques, mortiers, pierres dures, pigments). Ces matériaux ne peuvent être analysés sans avoir subi une préparation des échantillons. En effet, la granulométrie et la nature des minéraux influent sur le rayonnement de fluorescence X, ce qui nécessite davoir des étalons de composition voisine. Différents modes de préparation de léchantillon peuvent être envisagés, mais seule la méthode de la perle au borax sera traitée ici.
Avantages : cest une technique totalement non-destructive de léchantillon. En cas de nécessité, léchantillon peut être réanalysé plusieurs années après sa préparation. Les étalons de référence restent les mêmes dans le temps, ce qui assure une reproductibilité de lanalyse. Limites : les éléments de numéro atomique inférieur à celui du carbone ne peuvent pas être analysés par fluorescence X.
La précision varie avec la quantité de matière disponible pour lanalyse . Elle dépend également des éléments recherchés et de la matrice dans laquelle se trouve cet élément. La sensibilité dépend de la méthode de préparation de léchantillon et du matériau analysé. Elle varie avec les éléments chimiques. Elle approche le µg/g quand on opère sans dilution sur un prélèvement de lordre du gramme. Chap.9 : X-Rays Fluorescence Analysis, Jenkins, R., in Materials Science and Technology, A Comprehensive Treatment - Characterization of Materials, Part I, Edited by R.W. Cahn, P., Haasen, E.J. Kramer, volume 2A, Volume Editor E. Lifshin, Weinheim, New York, Basel, Cambridge, VCH, 1992. |