La diffraction des rayons X


Obtention des résultats

Les différentes distances réticulaires des milliers de minéraux naturels ou artificiels sont disponibles sous forme de fiches, de recueils de fiches ou sur CD-Rom. Ils ont été élaborés par l'ASTM (American Society for Testing Materials) et constituent la référence : plusieurs milliers de minéraux sont ainsi décrits avec toutes leurs distances réticulaires.

L'identification se fait manuellement (on « indexe » les pics) ou maintenant automatiquement par les logiciels d'identification et les banques de données de références ASTM.



Diagramme de Debye-Scherrer sur film

Les différents anneaux correspondent aux pics obtenus avec le diffractomètre. Ils indiquent une valeur de distance réticulaire.

Les difficultés d'application de la méthode sont liées :

  • à la nécessité de prélever suffisamment de matière (et qui soit représentative) ;
  • à la présence de plusieurs produits : les mélanges sont toujours difficiles à analyser car les « pics » caractéristiques peuvent se confondre ;
  • à certains effets de matrice ou de structure (argiles par exemple) qui peuvent perturber l'analyse diffractométrique.