La diffraction des
rayons X

Obtention des résultats
Les différentes distances réticulaires
des milliers de minéraux naturels ou artificiels sont disponibles sous
forme de fiches, de recueils de fiches ou sur CD-Rom. Ils ont été
élaborés par l'ASTM (American Society for Testing Materials) et
constituent la référence : plusieurs milliers de minéraux
sont ainsi décrits avec toutes leurs distances réticulaires.
L'identification se fait
manuellement (on « indexe » les pics) ou maintenant automatiquement
par les logiciels d'identification et les banques de données de références
ASTM.

Diagramme de Debye-Scherrer
sur film
Les différents anneaux
correspondent aux pics obtenus avec le diffractomètre. Ils indiquent une
valeur de distance réticulaire.
Les difficultés d'application
de la méthode sont liées :
- à la nécessité
de prélever suffisamment de matière (et qui soit représentative)
;
- à la présence de
plusieurs produits : les mélanges sont toujours difficiles à
analyser car les « pics » caractéristiques peuvent se confondre
;
- à certains effets de matrice
ou de structure (argiles par exemple) qui peuvent perturber l'analyse diffractométrique.
 
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